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中子散射实验揭示了无麸质面条在烹饪过程中崩解的微观结构原因，为改善其质地和完整性提供了见解。
MIT研究人员在《Matter》期刊上发表论文，介绍了一种AI模型，该模型利用非侵入式中子散射数据对材料中的原子缺陷进行分类和定量分析。该模型可同时检测多种缺陷类型，在不损坏材料的情况下改进半导体及其他材料的表征。